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油品中如汽油、柴油等樣品中的硫、氯、硅、磷的快速分析

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我的位置：首頁 > 產品中心 > 油品中如汽油、柴油等樣品中的硫、氯、硅、磷的快速分析 > 油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機 > HPXRF E-lite500油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機

油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機

簡要描述：

油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機E-lite500采用高精度X射線熒光分析技術（HPXRF）。與傳統的X射線熒光技術相比，該技術使用了先進的雙曲面彎晶晶體，降低背景噪聲，大幅提高信噪比，提高產品分析精度。

產品型號：HPXRF E-lite500
廠商性質：經銷商
更新時間：2025-08-28
訪問量：575

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產品詳情

油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機

油品中如汽油、柴油等樣品中的硫、氯、硅、磷的快速分析

食用油中的磷含量快速檢測

食品添加劑中的鋁含量快速檢測

針對食品中鋁、磷、鉀以及工業應用中輕元素的分析

產品特點

油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機

E-lite500采用高精度X射線熒光分析技術（HPXRF）。與傳統的X射線熒光技術相比，該技術使用了先進的雙曲面彎晶晶體，降低背景噪聲，大幅提高信噪比，提高產品分析精度

油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機

采用“側照式"樣品將被從側方重直置入儀器內部。該創新設計可確保避免意外泄漏的任何樣品不接觸儀器中貴重部件，以方便清理和維護，避免重大損失。

油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機

常壓大氣環境即可完成快速準確定量分析液體、粉末等樣品中的硫、氯、硅、磷等輕元素，大幅降低測試成本，在輕基體下檢出限可以低至 ppm級別。

高可靠性和高穩定性

油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機基于 HPXRF 技術，E-lite500 可以快速準確定量分析液體、粉末等樣品中的硫、氯、硅、磷等輕元素，在輕基體下檢出限可以低至 ppm 級別；針對食品中鋁、磷、鉀以及工業應用中輕元素有出色的分析性能。

油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機

重復性測試

為使用 E-lite500 對不同濃度標準樣品進行多次重復測量結果，以驗證方法的穩定性。

油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機

檢出限

油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機E-lite500 可以快速準確定量分析液體、粉末等樣品中的硫、氯、硅、磷等輕元素，在輕基體下檢出限可以低至 ppm 級別；針對食品中鋁、磷、鉀以及工業應用中輕元素有出色的分析性能。

油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機

技術參數

方法合規性：ASTM D4294 , ISO 8754 &IP336, ASTM D7220等標準方法

測量時間：30-1200 秒

元素范圍：Mg-Ca之間的8種元素

數據存儲及輸出：打印輸出、以太網、USB、內部存儲器、U盤

I/O 端口：以太網 10/100、USB

電源：110-240 VAC ± 10%，50-60 Hz

工作溫度：-5°C ~ 50°C

工作濕度：30 - 85 %

探測器：高分辨率硅漂移探測器

晶體：雙曲面彎晶（DCC）

重量：＜10kg

尺寸：238mm W x 350mm L x 260mm H

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油品煤柴油燃料液壓油原油金屬元素檢測儀機E-lite500采用高精度X射線熒光分析技術（HPXRF）。與傳統的X射線熒光技術相比，該技術使用了先進的雙曲面彎晶晶體，降低背景噪聲，大幅提高信噪比，提高產品分析精度。

產品特點

E-lite500采用高精度X射線熒光分析技術（HPXRF）。與傳統的X射線熒光技術相比，該技術使用了先進的雙曲面彎晶晶體，降低背景噪聲，大幅提高信噪比，提高產品分析精度

采用“側照式"樣品將被從側方重直置入儀器內部。該創新設計可確保避免意外泄漏的任何樣品不接觸儀器中貴重部件，以方便清理和維護，避免重大損失。

常壓大氣環境即可完成快速準確定量分析液體、粉末等樣品中的硫、氯、硅、磷等輕元素，大幅降低測試成本，在輕基體下檢出限可以低至 ppm級別。

高可靠性和高穩定性

重復性測試

檢出限

技術參數

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產品特點

E-lite500采用高精度X射線熒光分析技術（HPXRF）。與傳統的X射線熒光技術相比，該技術使用了先進的雙曲面彎晶晶體，降低背景噪聲， 大幅提高信噪比，提高產品分析精度

采用“側照式"樣品將被從側方重直置入儀器內部。該創新設計可確保避免意外泄漏的任何樣品不接觸儀器中貴重部件，以方便清理和維護，避免重大損失。

常壓大氣環境即可完成快速準確定量分析液體、粉末等樣品中的硫、氯、硅、磷等輕元素，大幅降低測試成本，在輕基體下檢出限可以低至 ppm級別。

高可靠性和高穩定性

重復性測試

檢出限

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E-lite500采用高精度X射線熒光分析技術（HPXRF）。與傳統的X射線熒光技術相比，該技術使用了先進的雙曲面彎晶晶體，降低背景噪聲，大幅提高信噪比，提高產品分析精度

采用“側照式"樣品將被從側方重直置入儀器內部。該創新設計可確保避免意外泄漏的任何樣品不接觸儀器中貴重部件，以方便清理和維護，避免重大損失。

常壓大氣環境即可完成快速準確定量分析液體、粉末等樣品中的硫、氯、硅、磷等輕元素，大幅降低測試成本，在輕基體下檢出限可以低至 ppm級別。