不銹鋼成分檢測(cè)儀,合金含量測(cè)試儀:應(yīng)用領(lǐng)域
固廢快速檢測(cè) 地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定

不銹鋼成分檢測(cè)儀,合金含量測(cè)試儀

使用天瑞合金成分,ROHS檢測(cè)儀過(guò)程中所遇到的問(wèn)題以及解答：

1.塑膠產(chǎn)品中如有五金,且不能剖切產(chǎn)品時(shí)，該如何測(cè)量RoHS，是該選擇塑膠分析組還是五金的分析組？其測(cè)量結(jié)果是屬塑膠還是屬五金的測(cè)試結(jié)果?

 答：這些樣品要分二部分測(cè)試，帶鍍層用金屬曲線，去鍍層用塑膠曲線。

2.測(cè)量重復(fù)性較差,怎樣能夠把差異減到zui小?

 答：樣品要平整，有一定厚度，單一物質(zhì)。

3.在測(cè)試樣品的時(shí)候，如果事先不知道材料的材質(zhì)信息，該怎么樣來(lái)選擇分析組？如：錫膏、不銹鋼等該選擇什么分析組測(cè)試？該儀器能否測(cè)試液態(tài)物質(zhì)？

 答：可先用EASY定性測(cè)試，再選擇方法測(cè)試；可測(cè)液體，但要測(cè)試安全，不能漏。

4.金屬材料里面會(huì)含有Br和Cl嗎？（Br和Cl為阻燃劑）如果不含有那為什么我們?cè)跍y(cè)試U鐵的時(shí)候選擇鐵合金精準(zhǔn)測(cè)試出來(lái)的結(jié)果里面會(huì)含有Br呢？

 答：金屬不含Br和Cl；這是由于Br由于鐵的合峰干擾引起的。

5.關(guān)于來(lái)料RoHS檢測(cè)NG, 總溴（Br）或氯（Cl）含量高超標(biāo)，其它項(xiàng)含量也相應(yīng)偏高，送外第三方檢測(cè)（SGS、CTI）為OK；請(qǐng)問(wèn)造成此差異的原因是否為儀器問(wèn)題，如何解決？

 答：原因很多：一、是否同一批物料；二、樣品有測(cè)試過(guò)程中是否有污染；三、制樣是否滿(mǎn)足要求；

6.鎘、鉛、汞測(cè)量結(jié)果的受影響程度，在什么情況下會(huì)受影響,從什么地方可以看出來(lái)？具體應(yīng)該怎么看？

 答：一般來(lái)說(shuō)，鎘受錫、溴Ka合峰的干擾；鉛受Bi、As、Br、Fe合峰的干擾；汞受W的干擾，這些可從譜圖看得到。

7.產(chǎn)品放置在Be窗口上面，如果漏光是否會(huì)影響測(cè)量結(jié)果？

 答：產(chǎn)品只能放在測(cè)試窗上，不會(huì)放在Be窗口上，漏光影響不大.

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測(cè)試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售一體型企業(yè)。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列儀器是測(cè)合金元素成分檢測(cè)儀,專(zhuān)門(mén)研發(fā)測(cè)試合金成分分析.測(cè)試過(guò)程校準(zhǔn)，保證測(cè)量精度，內(nèi)置多條曲線，可滿(mǎn)足多種元素的分析需要。 X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行成分分析，在冶煉過(guò)程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。

不銹鋼成分檢測(cè)儀,合金含量測(cè)試儀應(yīng)用領(lǐng)域

固廢快速檢測(cè)

地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析

金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定

黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)

主要用于固廢行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行、首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)

下照式：可滿(mǎn)足各種形狀樣品的測(cè)試需求

準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿(mǎn)足各種測(cè)試方式的應(yīng)用

移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn)

高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性

新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率

元素分析范圍：磷（P）～鈾（U）

檢出限：1ppm

分析含量：ppm～99.99％

任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型

相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型

多變量非線性回歸程序

環(huán)境溫度：15℃～30℃

電源：交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源

能量分辨率：144±5eV

樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm

儀器尺寸：550mm×410mm×320mm

儀器重量：45kg

移動(dòng)樣品平臺(tái)

信噪比增強(qiáng)器

SDD探測(cè)器